深圳市啟威測標準技術服務有限公司（簡稱“啟威測”或“QWC”）成立于2016年，位于光明新區(qū)，專注于移動產品及電子產品研發(fā)階段可靠性檢測、驗證及失效分析服務。 啟威測根據CNAS國家認可實驗室要求建設，配合高科技電子產品設計、驗證、生產過程中的檢測需求組建科技實驗室，并嚴格按照ISO/IEC17025的規(guī)定進行實驗室質量體系建設與業(yè)務管理，保證檢測結果的科學性、公正性和準確性，為客戶提供優(yōu)質、可靠、高效、滿意的服務。 實驗室業(yè)務涵蓋環(huán)境可靠性檢測和分析檢測，環(huán)境可靠性實驗室能開展的項目有氣候環(huán)境實驗、機械環(huán)境實驗、光照模擬、腐蝕實驗等項目。分析實驗室可對電子器件、電路板、電子材料及電子產品進行可靠性分析、失效分析等檢測服務。 環(huán)境可靠性檢測中心 氣候環(huán)境：高/低溫存儲、溫濕度循環(huán)、冷熱沖擊、快速溫變、低氣壓試驗、步入式溫濕度循環(huán)測試(Walk-in)； 機械環(huán)境：振動測試、機械沖擊、跌落測試、高速攝影、工業(yè)包裝跌落/振動測試； 光照模擬： UV紫外線老化、太陽光譜模擬測試(氙弧燈)、太陽輻射； 腐蝕實驗：中性鹽霧（NSS）、醋酸鹽霧（ASS）、銅加速醋酸鹽霧（CASS）、交變鹽霧（NSS+濕熱）、霉菌試驗、混合氣體腐蝕測試； 加速應力：溫度+濕度+振動三綜合實驗、HAST高加速老化測試、MTBF; 理化性能及分析檢測中心 材料熱分析：差示掃描量熱法（DSC）、熱重分析（TGA）、動態(tài)熱機械分析（DMA）、熱機械分析（TMA）； 成分分析：紅外光譜（FTIR）、SEM/EDS、氣相色譜-質譜聯用（GC-MS）、Py GC-MS、（AES）、（TOF-SIMS) ; 失效分析：金相切片、掃描電鏡和能譜分析（SEM&EDS）、聲學掃描分析（C-SAM）、 X射線透射（X-ray）、 X射線熒光光譜分析（XRF）、X射線光電子能譜分析（XPS）、X射線衍射儀（XRD）； 檢測領域