日本精工電子有限公司(Seiko Instruments Inc.簡稱SII),于1978年良好于其他廠商,研究開發(fā)出日本**臺熒光X射線鍍層厚度測量儀-SFT155。經(jīng)過二十多年的努力,現(xiàn)在的熒光X射線鍍層厚度測量儀能夠準(zhǔn)確地測量微小面積的鍍層厚度。現(xiàn)已為全世界電子零部件、印刷電路板、汽車零部件等相關(guān)廠商提供了5000臺以上的測量儀,深受用戶的依賴與**。從此,“SFT”幾乎成為鍍層厚度測量儀的代名詞。 隨著市場競爭的愈加激烈及產(chǎn)品較新?lián)Q代的加快,客戶需求也日新月異。為了迎接新世紀(jì)的挑戰(zhàn),本公司在SFT9000系列的基礎(chǔ)上又推出較**的SEA5000系列儀器,較加充實了熒光X射線鍍層厚度測量儀的應(yīng)用領(lǐng)域